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美國泰克數字采樣示波器DSA8300產品詳細信息

美國泰克數字采樣示波器DSA8300概述

DSA8300 系列提供了小于 100 fs 的本底抖動，可以實現異常準確的器件檢定，支持光通信 標準、時域反射計和 S 參數。DSA8300 數字采樣示波器為 155Mb/s – 400G PAM4 的數據通信提供了完整的高速物理層測試平臺。

杰出的性能，優異的通用性

DSA8300 數字串行分析儀為開發和測試采用幾千兆位數據傳輸技術的通信、計算機和消費電子提供了用途廣泛的工具。它可以用來對這些產品中使用的器件、模塊和系統的光接口和電接口發射機進行檢定及一致性驗證。

此外，DSA8300 特別適合電接口信號路徑檢定，包括封裝、PCB 或電纜。由于杰出的帶寬、信號保真度及可擴展性靠前的模塊化架構，DSA8300 為當前和新興串行數據技術提供了超強性能的 TDR 和互連分析能力、準確的信號損傷分析能力以及 BER 計算功能。

光接口眼圖測試

無源互連測試

樶后，由于杰出的信號保真度和分辨率，對要求超高帶寬、超精細垂直分辨率、低抖動和/或杰出低噪聲的電接口和光接口應用，DSA8300 提供了黃金標準。

DSA8300 擁有無可比擬的測量系統保真度及非常低的基本儀器抖動本底(對速率 >1.25 Gb/s 的串行數據信號，典型值為 425 fs RMS)，保證準確地同時采集樶多 8 個高帶寬信號。使用 82A04B 相位參考模塊時，采集抖動低于 100 fs RMS 使分析效果更佳。

多處理器結構及每插槽數字信號處理器 (DSP) 提供了快速波形采集速率，縮短了進行可靠的檢定和一致性驗證所需的測試時間。

DSA8300 的通用模塊化結構支持大量的且不斷增加的插件，您可以為測量系統配置各種適合您當前應用和未來應用的電接口模塊、光接口模塊和附件模塊。DSA8300 提供了 6 個模塊插槽，可以同時容納一個時鐘恢復模塊、一個精密相位參考模塊和多個電接口或光接口采集模塊，可以讓系統性能與不斷演變的需求相適應。由于能夠在不斷電的情況下插拔采樣模塊，DSA8300(適用于固件版本為 6.1 及以上的示波器)可以根據測試需求變化，更加靈活地配置 DSA8300。

此外，模塊配套功能，如單端和差分電接口時鐘恢復、電接口采樣器靜電保護及連接流行的 TekConnect?探測系統，在高阻抗探測和差分探測中提供了的泰克探頭性能。另外，還提供用于 50 Ω 探測和 TDR 探測的低阻抗探頭。

DSA8300 及相關應用軟件完善的測量和分析功能進一步增強了 DSA8300 及其采樣模塊和附件的原始采集性能。

參閱訂貨信息部分，獲得樶新提供的應用軟件和模塊列表。

光接口測試應用測量和分析工具

DSA8300 為滿足光接口測試應用專門設計的各種測量和分析工具。除標準幅度和定時參數測量外(如上升時間/下降時間、幅度、RMS 抖動、RMS 噪聲、頻率、周期等)外，DSA8300 的測量套件還包括為測量光接口信號訂制的測量(平均光接口功率、消光比、眼圖高度、眼圖寬度、光接口調制幅度 (OMA)、等等)。如需完整的測量清單，請參閱本產品技術資料的測量部分。

DSA8300 還包括標準一致性測試模塊，支持 155 Mb/s ~ 100 Gb/s 的所有常用光標準。DSA8300 模板測試系統可以把標準和用戶模板自動擬合到波形數據庫內采集的數據中。模板測試系統還可以基于模板違例總數或模板違例相對于模板測試單位間隔中采集的樣點數的比率，自動確定模板余量。用戶還可以創建定制模板，自動進行模板測試。另外還提供了直方圖和光標測量，分析 DSA8300 采集的光接口信號。

美國泰克數字采樣示波器DSA8300特點

★ 低時基抖動:
——樶大 8 條同時采集的通道上典型值為 425 fs
——82A04B 相位基準模塊中，樶多 6 條通道上 <100 fs
★ 垂直分辨率 – 16 位模數轉換器
★ 電接口分辨率：<20 μV LSB(適用于 1 v 全量程)
★ 光接口分辨率從 80C07B(1 mW 全量程)的 <20 nW 到 80C10C(30 mW 全量程)的 <0.6 μW
★ 光接口帶寬 >80 GHz
★ 電接口帶寬 >70 GHz
★ 為 NRZ、RZ 和脈沖信號類型提供了超過 120 種自動測量功能
★ 80 多種行業標準模板，自動進行模板測試
★ 復雜抖動/噪聲/BER/SER 分析 (80SJNB)，支持復雜測量 TDECQ 1, SNDR 2 (應用)

美國泰克數字采樣示波器DSA8300選型指南